특징 |
장점 |
| 활성 온도 제어 |
레이저 다이오드의 우세 출력 파장을 변경하여 신호 중첩 및 크로스토크 문제를 발생시킬 수 있는 온도 편차를 방지합니다. |
| 50W TEC 컨트롤러 |
다른 저전력 솔루션에 비해 테스트 속도는 더 빠르며 온도 설정 포인트 범위는 더 넓습니다. |
| 완전 디지털 P-I-D 제어 |
온도 안정성이 보다 뛰어나며, 간단한 펌웨어 변경을 통해 쉽게 업그레이드할 수 있습니다. |
| 열 제어 루프(모델 2510-AT)용 자동 조정 기능 |
시행착오 실험을 통해 P, I, D 계수의 최적 조합을 확인할 필요가 없습니다. |
| 넓은 온도 설정 포인트 범위(–50°C~+225°C) 및 높은 설정 포인트 분해능(±0.001°C)과 안정성(±0.005°C) |
냉각된 광 구성 요소 및 서브어셈블리의 생산 테스트를 위한 대다수 테스트 요구 사항을 충족합니다. |
| 서미스터, RTD, IC 센서 등의 다양한 온도 센서 입력과 호환 |
광범위한 레이저 다이오드 모듈에 가장 일반적으로 사용되는 온도 센서 유형과 연동됩니다. |
| AC 옴 측정 기능 |
TEC 장치의 무결성을 확인할 수 있습니다. |
| 열 피드백 요소에 대한 4선 개방/단락 리드선 감지 |
측정된 값에 대한 리드선 저항 오류를 방지하여 잘못된 실패 발생 또는 장치 손상 가능성을 줄일 수 있습니다. |
