Keithley의 시리즈 2600B 시스템 SMU 장비는 고도로 자동화된 생산 테스트 애플리케이션을 위한 업계 표준 전류-전압 소스 및 측정 솔루션입니다.
듀얼 및 단일 채널 모델 모두 정밀 전원 공급기, 실제 전류 소스, DMM 및 펄스 발생 기능이 있는 전자 부하기를 긴밀하게 통합합니다.
또한 TSP® 기술은 자동화된 시스템 애플리케이션을 위한 완벽한 테스트 프로그램을 실행하며, TSP-Link® 기술은 대용량 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 데이지 체인 방식으로 연결할 수 있습니다.
설치 면적을 그대로 유지하면서 완벽한 생산 테스트 수행
동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 각 40W 채널은 6½ Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100μs 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.
주요 특징
• 동일한 설치 면적에서 최대 2개의 채널
• 전압 및 전류의 가장 넓은 동적 범위
• DC 생산 테스트 기능을 확장하는 고정밀 100μs 펄스
탁월한 생산 처리량을 위한 임베디드 스크립팅
동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다.
각 40W 채널은 6½ Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100μs 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.
주요 특징
• 시간이 오래 걸리는 PC와의 버스 통신 제거
• 고급 데이터 처리 및 흐름 제어
• 다기능 프로버/처리기 제어
메인프레임 없이 뛰어난 시스템 성능
TSP-Link® 기술은 메인프레임 없이 고속, 핀별 SMU 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 확장할 수 있습니다. 모든 채널은 500ns 미만의 속도로 동시에 독립적으로 제어됩니다.
주요 특징
• 500ns 미만의 채널 간 동기화 지원
• 최대 32개의 SMU 또는 64개의 독립 SMU 채널
• 테스트 요구 사항 변경 시 쉽게 재구성 가능
생산을 위한 최상의 저전류 성능
2635B 및 2636B SMU는 최저 100pA 범위에서 0.1fA, 10-16 분해능을 제공하여 초저 레벨 샘플 특성화에 대한 걱정을 줄여주고 성공적인 생산을 보장합니다.
주요 특징
• 가장 낮은 전류 범위에서 7배 빠른 정착 시간
• 시장에서 최상의 저전류 분해능
• 직접적인 3축 연결로 설정이 간단해짐
자세히 알아보면 보다 자세한 정보를 파악할 수 있습니다.
SMU(Source Measure Unit) 자습서 학습 센터는 Keithley SMU 및 기타 제품에 대한 풍부한 정보를 일체형의 편리한 위치에 제공합니다. 텍트로닉스는 당사가 제공하는 애플리케이션 및 산업과 관련된 다양한 콘텐츠에 대한 링크를 제공합니다.
| 모델 |
채널 |
최대 전류 소스/측정 범위 |
최대 전압 소스/측정 범위 |
측정 분해능(전류/전압) |
전원 |
| 2634B |
2 |
10A |
200V |
1fA/100nV |
200W |
| 2636B |
2 |
10A |
200V |
0.1fA/100nV |
200W |
| 2635B |
1 |
10A |
200V |
0.1fA/100nV |
200W |
| 2612B |
2 |
10A |
200V |
100fA/100nV |
200W |
| 2611B |
1 |
10A |
200V |
100fA/100nV |
200W |
| 2614B |
2 |
10A |
200V |
100fA/100nV |
200W |
| 2604B |
2 |
10A |
40V |
100fA/100nV |
200W |
| 2602B |
2 |
10A |
40V |
100fA/100nV |
200W |
| 2601B |
1 |
10A |
40V |
100fA/100nV |
200W |
 |
동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 각 40W 채널은 6½ Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100μs 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.주요 특징• 동일한 설치 면적에서 최대 2개의 채널• 전압 및 전류의 가장 넓은 동적 범위• DC 생산 테스트 기능을 확장하는 고정밀 100μs 펄스
동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다.각 40W 채널은 6½ Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100μs 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.주요 특징• 시간이 오래 걸리는 PC와의 버스 통신 제거• 고급 데이터 처리 및 흐름 제어• 다기능 프로버/처리기 제어
TSP-Link® 기술은 메인프레임 없이 고속, 핀별 SMU 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 확장할 수 있습니다. 모든 채널은 500ns 미만의 속도로 동시에 독립적으로 제어됩니다.주요 특징• 500ns 미만의 채널 간 동기화 지원• 최대 32개의 SMU 또는 64개의 독립 SMU 채널• 테스트 요구 사항 변경 시 쉽게 재구성 가능
2635B 및 2636B SMU는 최저 100pA 범위에서 0.1fA, 10-16 분해능을 제공하여 초저 레벨 샘플 특성화에 대한 걱정을 줄여주고 성공적인 생산을 보장합니다.주요 특징• 가장 낮은 전류 범위에서 7배 빠른 정착 시간• 시장에서 최상의 저전류 분해능• 직접적인 3축 연결로 설정이 간단해짐
SMU(Source Measure Unit) 자습서 학습 센터는 Keithley SMU 및 기타 제품에 대한 풍부한 정보를 일체형의 편리한 위치에 제공합니다. 텍트로닉스는 당사가 제공하는 애플리케이션 및 산업과 관련된 다양한 콘텐츠에 대한 링크를 제공합니다.